TH2661型四探針測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析。
由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。

TH2661手持式四探針直流低電阻測試儀

性能特點：

■大屏幕液晶顯示

■采用SMT表面貼裝工藝

■可手動或自動選擇合適的電流源量程

■電流源方向有正方向、反方向和正反方向三種選擇

■預設樣片厚度，自動修正，直讀電阻率

■報警門限預設，可用于HI PASS LOW 分選

■200個讀數(shù)存儲，可對存儲讀數(shù)求大值、小值和標準偏差值 等數(shù)學統(tǒng)計

■USB通訊功能，可通過上位機軟件對手持表進行操作

■0.5%基本精度

■讀數(shù)穩(wěn)定性好

■自動關機功能

■電池及外接電源供電方式

TH2661手持式四探針直流低電阻測試儀

簡要介紹：

■TH2661型四探針測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析。

由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。

TH2661手持式四探針直流低電阻測試儀

技術參數(shù)：